レーザ関連機器・部品 | ファイバーラボ株式会社

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Nd:YAG(Y₃AL₅O₁₂)レーザー結晶は、最も早く開発され、最も有名なレーザー結晶です。Nd:YAGはたくさんの優れた基本性能を有していることから、近赤外固体レーザーや逓倍、3逓倍、高次逓倍の利用において身近な存在です。

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KTA(KTiOAsO₄)結晶は、光パラメトリック発振器への利用に適した非線形光学結晶です。KTAは、非線形光学および電気光学係数が高く、2.0μm-5.0μmの波長帯域での吸収が少なく、受光角と温度帯域幅が広く、低誘電率であるという特徴があります。また、イオン伝導率が低いので、KTPに比べて損傷閾値が高いです。

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RTP(RbTiOPO₄)非線形結晶は、非線形光学および電気光学装置に使われるKTP結晶と同形の結晶です。RTPは、高い損傷閾値(KTPの1.8倍)、高い抵抗値、高い繰り返し性能、吸湿性がなく60kHzまで圧電効果を引き起こさないという利点があります。透過波長範囲は350nm-4500nmです。

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GTR-KTP(Gray Track Resistance KTiOPO₄)結晶は、商用・軍用レーザーとして幅広く利用されている非線形光学結晶です。従来のKTP結晶には、グレイトラック損傷によって高繰り返し高出力レーザー装置への適用に限りがでてしまうという重大な欠点がありました。グレイトラック損傷は、強い緑のCWレーザー(532nm)を使い、時間当たりどれくらい結晶に吸収されたかで測定することができます。この測定は光熱コモンパス干渉計を用いて行うことができます。また、KTPとGTR-KTPを10ns、1Hzの条件のレーザーで試験したところ、GTR-KTPはKTPの450MW/cm2を大きく上回る18KW/cm2(at 1064nm)の損傷閾値を有することが分かりました。

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KTP(KTiOPO4)非線形結晶は、研究室や医療システム、レンジファインダー(光学視差式距離計)、LIDER(光学リモートセンシング技術)、光通信、産業システムといった幅広い分野で商用・軍用レーザーとして使用されている光学結晶です。

■ CASTECH製KTPの特徴

・大きい非線形光学(NLO)係数・広い受光角と小さなウォークオフ角・使用可能温度と波長帯域が広い・高い電気光学(EO)係数と低い誘電率・各特性で高い値を示している・非吸湿性で、化学的にも機械的にも安定

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LiIO3結晶は、非線形光学(NLO)係数が大きいという特徴があるため、一番古くから使われてきた非線形光学(NLO)結晶です。おもに周波数を2倍、3倍にする周波数逓倍器や周波数混合器で使用されています。CASTECHでは光学均質性の高いLiIO3を提供しており、要望によって切断や研磨、ARコートなども可能です。

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LiTaO3非線形結晶は、高い損傷閾値、非線形光学(NLO)特性や電気光学(EO)特性が良いという性質から、電気光学(EO)装置へ幅広く利用されています。CASTECHでは高品質のLiTaO3を結晶またはウエハ状で提供しており、要望に応じた形で提供することも可能です。

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日本防振工業は、加速的に発展する科学技術と技術革新のなかで、長年培ってきた除振技術を通し、精密測定機器の精度向上や高度な実験をサポートすることに日夜邁進しております。当社が開発したハニカム定盤はクリーン、高剛性をテーマに掲げ、こだわりの製造工程を忠実に守り、お客様に満足いただける製品を提供しております。近年の先端研究では超安定環境が求められており、当社でも重要視される様々な安定への対応が喫緊のテーマになっており、その成果として「水冷式温調定盤」、「チューンド・マス・ダンピング定盤」「非磁性定盤」を開発し、お客様から高い評価を頂いております。

ハイグレードダンピング三次元空気ばね式除振台

卓上型三次元空気ばね式除振台(搭載板仕様)

卓上型三次元空気ばね式除振台(定盤仕様)

システムデスク型空気ばね式除振台

簡易型光学実験台

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全てのレーザを測定 オフィール・レーザ計測機器グループでは、nW – kW、pJ – 数百Jレンジといった幅広い製品ラインナップのレーザパワーメータを取り揃えております。 高精度パワー&エネルギ測定 優れた出力直線性と再現性など、信頼性の高いパワー & エネルギメータをご提供しています。

外観	測定項目	製品名/概要
レーザパワーメータ & エネルギーメータ
	・レーザパワー	レーザパワープローブパワープローブは、高精度ながら低価格を実現した、簡易操作が特徴のレーザパワー測定器です。最大測定パワー10kW、最大パワー密度10KW/cm² まで対応しています。
	・10pW ~ 3W レーザパワー	レーザフォトダイオードセンサフォトダイオードセンサは、数nWの極微量な光から、2mW程度の光出力レベルに至る、広範囲の入射パワーに対して、驚くほど直線性の良い出力特性を持っています。フィルタ装着で3Wまで測定可能。
	・低出力 (10pJ-15μJ) パルスエネルギー	フォトダイオードエネルギーセンサフォトダイオード・エネルギセンサは繰り返し応答周波数20kHzまで対応、最小10pJまでの低出力パルスエネルギを測定できます。シリコンディテクタを採用したセンサは紫外から可視領域まで対応、ゲルマニウムディテクタを採用したエネルギセンサは赤外領域に対応しています。
	・パルスエネルギー・レーザパワー	パイロエレクトリックレーザエネルギーセンサパイロエレクトリックセンサで、パルスごとのエネルギ測定と平均パワー測定が可能です。最大応答繰り返し周波数25kHzなど幅広いレンジに対応しています。
	・レーザパワー・シングルショットエネルギ－	サーマルセンササーマルセンサで、レーザの平均パワー測定およびシングルショットエネルギ測定が可能です。高精度のパワーセンサを豊富にラインナップしています。サーマルセンサは、光を吸収体で吸収して熱に変換しています。
	・レーザパワー・シングルショットエネルギー・ビーム位置・ビーム径	ビームトラックセンサビームトラックセンサは、レーザの平均パワー測定およびシングルショットエネルギ測定に対応するばかりでなく、ビーム位置やビーム径も1台のセンサで測定可能です。
関連製品
	・ディスプレイ	パワーメータ/エネルギーメータ用ディスプレイ
	・インターフェース	PC接続用USBインターフェース

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Ophir社のビームプラファイラにはカメラ式とスリット式があります。 カメラ式ビームプロファイラは、カメラ本体、ビームプロファイラのソフトウェア、減光用アクセサリで構成されています。オフィール・スピリコンでは業界一の豊富なラインナップでカメラセンサをご用意しており、13nmの遠紫外から3000µmのEUVまで対応可能です。ほとんどの波長域でUSBおよびFireWireインターフェースが利用可能で、ノートパソコンまたはデスクトップでもご使用頂けます。 スリット式ビームプロファイラでは、フォトディテクタの前にある細いスリットがビームを通過するように回転します。スリットを通過しディテクタに当たった光のエネルギーは電流に変換されます。スリットスキャナは、ほとんど減衰なしで測定できますので、加工用レーザの計測に最適です。波長が10.6μmのCO₂レーザは広く加工に用いられますが、カメラによる計測は不可能です。したがって、スリットスキャナは1kＷまでのCO₂レーザの計測に非常に便利です。

外観	製品名/概要
カメラ式ビームプロファイラ
	ビームゲージソフトウエア対応ビームプロファイラカメラカメラにはビームゲージソフトウェアが付属しリアルタイムでレーザビームのプロファイルに対応します。高性能カメラに加え、数多くのISO規格に準拠した測定、業界一のアルゴリズムを誇るUltracal補正機能（特許取得済み）など優れた機能を兼ね揃えたビームゲージアプリケーションにより高精度の測定が可能です。
	高解像度パイロエレクトリックカメラ：PyrocamⅢHR/PyrocamⅣ Pyrocam/パイロカムシリーズはレーザビームプロファイル計測用のカメラで、波長帯域13nm-355nm、1.06-3000um、ブロードバンドアレイ、ワイドダイナミックレンジ、高速データキャプチャレート、CW及びパルスレーザ対応、NIRレーザ、CO₂レーザ、THz光源対応。
	ベーシック・ビームアナライザシステム：BeamMic™ BeamMicは、簡易性を追求した基本的なビームプロファイル計測を実現します。ビーム径、均一性、出力による影響など、ビームモードの精度がアプリケーションの精度に大きな影響を及ぼします。レーザビームをより正確に解析し、ビームのパラメータを正確に分析することは不可欠です。
	高出力CO2レーザ用・簡易ビームモード計測システム：ModeCheck ModeCheckは高出力CO₂レーザ用・簡易ビームモード計測システム。最大測定出力5kWまでの工業用CO₂レーザビームモード解析用可搬型ビームプロファイラ。従来の危険な確認方法（アクリル板にレーザを照射して蒸発させバーンパターンからビーム強度分布を目視で確認する方法）に代わり、ModeCheckにレーザを入射するだけでリアルタイムでビームモードを確認。
	高出力ディスク&ファイバレーザ測定非接触ビームプロファイラ：BeamWatch BeamWatch非接触ビームモニタリングシステムは、kWクラスの高出力ディスク・ファイバレーザ（波長帯域980-1080nm）のビームプロファイル計測に対応。レイリー散乱の信号を計測。レーザ光は機構や光の特性に影響を与えることなく直接システム内部を通過し計測。数kWクラスの工業用高出力レーザビームプロファイル計測に最適。
	ビームキューブ：BeamCube BeamCubeは工業用高出力パルスNd : YAGレーザ、ダイオードレーザ、ファイバレーザ専用のレーザビーム計測装置です。減衰光学系、ビームプロファイラ、パワーメータを本体に内蔵しているので可搬性に優れ、1台のみで重要なレーザビームのパラメータをコンピュータ画面上にて全てモニタすることを実現しました。
	高出力CO₂レーザ用ビームプロファイラ・キット：LPK-CO2 LPK-CO2 にはA/Rコート付き反射ウェッジ、CaF₂フィルタ、ビーム径を小さくするためのテレスコープ、ギガビット・イーサーネット対応のパイロカムカメラ、BeamGageビームゲージソフトウェア・スタンダード版が含まれます。キットは水平方向のビームや下方に向かうビームの計測が行えるように設計されており、生ビームの特性や安定性が測定できます。
	M²ビーム品質測定システム：BeamSquared ・1分以下で自動ビーム品質測定を実現・レーザビーム品質を高品質に調整・ISO準拠のM2値が手軽に測定可能・簡易操作にて定期的な計測が容易に可能・比類ないUltracalTMベースライン補正機能
スリット式ビームプロファイラ
	ナノスキャンシリーズ：NanoScanTM NanoScanTMは、スリットスキャン式のレーザビームプロファイラです。NanoScanシステムはスリットスキャン式の優位性としてサブミクロンの測定精度、シリコン、ゲルマニウム、パイロエレクトリックディテクタを採用しており広波長範囲に対応しています。ソフトウェアは数多くのISO規格に準拠した測定に対応、M2 Wizard機能搭載、レーザ出力測定も可能です。
	ハイパワーナノスキャン：High Power NanoScan ・5kWまでの集光CO₂レーザビームの計測・パルス幅変調(PWM)レーザの計測に最適・Qスイッチレーザやその他の高繰返しパルスレーザの計測
	スリットスキャンM²計測プロファイラ：NanoModeScan NanoModeScanはM²測定用スリット式ビームプロファイルシステム。シリコン、ゲルマニウム、パイロエレクトリックディテクタをご用意、波長帯域UV-FIRに対応。可搬性に優れたコンパクト設計、迅速な計測、ISO準拠の数多くの計測、CWまたはkHzまでのパルスレーザ、幅広い種類のレーザ計測に対応。
アクセサリー
	NDフィルタレーザビームプロファイラのオプションで減衰用NDフィルタ各種取り揃えています。
	ビームスプリッタレーザビームプロファイラのオプションで減衰用ビームスプリッタを各種取り揃えています。
	ND + ビームスプリッタの組み合わせレーザビームプロファイラのオプションでNDフィルタとビームスプリッタの組み合わせを各種取り揃えています。
	ビームエキスパンダとマイクロスコープの組み合わせ小口径ビームをイメージングする時に分解能となりますが、ビームエキスパンダとマイクロスコープでビームサイズを大きくしてより高精度なビームプロファイルが可能です。
	ビームリデューサ大口径ビームをイメージングする時にイメージャよりもビームが大きい場合、ビームリデューサでビームサイズを小さくしてより高精度なビームプロファイルが可能です。
	フロントエンドイメージング及びスペーサ用レンズビーム径が大きすぎて従来の直接入射やサンプリングの方法で測定できない場合、イメージャの正面後ろにイメージングレンズを固定してビームが投影される面まで集光点を調整します。
	UVレーザ用イメージコンバータ UV光をVIS光に変換用コンバータをご用意しています
	NFP:ニアフィールドプロファイラ NFP:ニアフィールドプロファイラはCCDプロファイラとスリット式スキャニングカメラ両方で使用可能で極小ビームをプロファイル可能。ディテクタアレイのピクセルサイズのために測定できない極小ビームを拡大します。
	オプティカルカメラトリガオプティカルカメラトリガはトリガ機能オプションで、カメラ本体に設定して外部オプティカルトリガでパルスに同期します。オプティカルカメラトリガシステムの構成はオプティカルカメラトリガ本体とオプションのC-マウントアダプタ