CRD（Cavity-Ring-Down）測定システムは、高反射光学コーティング層の損失を正確に測定できます。平面およびわずかに凹状の光学部品での損失の測定ではR> 99.9％で、dR / R <2ppmの精度です。また、さまざまな離散入射角での損失測定やs偏光、p偏光の測定が可能です。用途に応じて測定に用いるレーザー波長を選択することができます。

図1：4波長測定システムのセットアップ例 図2：3波長測定システムのセットアップ例
■用途

•高反射光学コーティング層の損失の正確な評価
•平面およびわずかに凹状（| r |> 500mm）の光学部品での損失の測定：公称反射率R»99％（通常値：99.995％）
•R> 99.9％で、dR / R <2ppmの精度
•さまざまな離散入射角での損失の測定、およびs偏光および/またはp偏光の測定
•希望する目的に応じて、注文時に選択可能なレーザー波長
（波長例：≥355nm…532nm…633nm…1064nm…≤1310nm）
■測定原理

  • パルスまたは高速スイッチcwレーザーをパッシブ共振器キャビティへ入射
  • 測定のコーティングは、すべてのラウンドトリップで反射 → 反射損失
  • アウトカップリングされた信号の時間依存性を高精度評価 → リングダウン
  • パルスの既知のラウンドトリップ時間を用いて、リングダウン時間特性による損失を評価します。反射あたりのL; R = 1 – Lと仮定すると、反射率が得られます。

測定画面の例

■仕様

反射率測定
精度		 R » 99%
dR/R < 2ppm for R > 99.9%
評価試料
必要な基板特性
* 0°a.o.iでの測定用 その他の仕様はお問い合わせください。		 Ø 1” or 0.5” (~ 25, 12.5mm), 厚さ ~ 6mm;
使用される波長で透明な基板；裏面研磨、平面
電源
レーザ（モデルにより異なる場合があります）
ディテクタ		 .
100–240V AC, 50 Hz…60 Hz
＋/- 9V DC
データ取得、A / D変換、データ処理用モジュール
PCへのインターフェース（Windows 10は含まれていません）：USB 2.0
評価用ソフトウェア（R分析）、測定データのデータベース処理（生産品の入力および測定パラメータ、サンプル番号 など）、ISO-13142準拠テストレポートシートの編集
メーカ：SPECK SENSORSYSTEME GmbH

*SPECK社ではお客様のお知りになりたい情報を的確に把握するため質問票を用意しています。
“見積りが必要な場合以下の質問票に記載し、メールに添付してお送りください”
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