光ファイバ損失測定装置 FSL300は、光ファイバのスペクトル損失を正確に測定することができ、品質管理プロセス、材料研究、および光ファイバ開発において重要な役割を担うことができます。国際的に認められた基準試験方法であるカットバック技術を採用しており、すべてのファイバタイプにおいて高い測定精度をもたらすことができます。FSL300は、優れた測定信頼性を確かなものにするために最先端の光学的・機械的安定性とカットバックエンドでの再現性を追求しております。
FSL300は、モジュラー設計を特徴としており、チョップド光源、分光器構成、ロックインアンプ、検出器ステーション、そして非常に広い波長範囲にわたる測定用の起動光学系の独立した選択により、構成の柔軟性を高めています。
■特徴・光ファイバのスペクトル損失を正確に測定 ■用途・IEC 60793-1-40:2001 |
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■スペクトル例
光ファイバとは？| 項目 | 単位 | パラメータ |
| ファイバの固定器具 | – | 80~200μmベアファイバ用チャック |
| ファイバの固定溝 | – | 125μmファイバ用V溝 |
| FSL300_Si | ||
| 波長範囲 | nm | 350 ~ 1100 |
| スペクトルデータ間隔 | nm | 5 |
| FWHM | nm | 5 |
| 光源 | – | チョップドIL1 |
| 分光器 | – | TMc300 (1200g/mm 回折格子) |
| ディテクタ | – | 2.4×2.4室温シリコン : 350~1100nm |
| 波長精度 | nm | GA-T312R0U5 ± 0.2 |
| FSL300_InGaAs | ||
| 波長範囲 | nm | 800 ~ 1700 |
| スペクトルデータ間隔 | nm | 5 |
| FWHM | nm | 5 |
| 光源 | – | チョップドIL1 |
| 分光器 | – | TMc300 (1200g/mm 回折格子) |
| ディテクタ | – | 1mmφ室温InGaAs : 800~1700nm |
| 波長精度 | nm | GA-T30831U2: ± 0.3 |
| FSL300_InGaAs_EX | ||
| 波長範囲 | nm | 800 ~ 2500 |
| スペクトルデータ間隔 | nm | 5 |
| FWHM | nm | 5 |
| 光源 | – | チョップドIL1 |
| 分光器 | – | TMc300 (830&600g/mm 回折格子) |
| ディテクタ | – | 1mmφ熱電冷却拡張InGaAs : 800~2500nm |
| 波長精度 | nm | GA-T30831U2: ± 0.3 GA-T306R1U6: ± 0.4 |
| FSL300_PbSe | ||
| 波長範囲 | nm | 1500 ~ 5000 |
| スペクトルデータ間隔 | nm | 10 |
| FWHM | nm | 10 |
| 光源 | – | チョップドILD-QH-IR |
| 分光器 | – | TMc300 (600&300g/mm 回折格子) |
| ディテクタ | – | 3mmφ熱電冷却PbSe : 1000~5000nm |
| 波長精度 | nm | GA-T306R1U6: ± 0.4 GA-T303R3U0: ± 0.8 |
| FSL300_Dual_Si_InGaAs | ||
| 波長範囲 | nm | 350 ~ 1700 |
| スペクトルデータ間隔 | nm | 5 |
| FWHM | nm | 5 |
| 光源 | – | チョップドIL1 |
| 分光器 | – | TMc300 (1200&830g/mm 回折格子) |
| ディテクタ | – | 2.4×2.4室温シリコン : 350~1100nm 1mmφ室温InGaAs : 800~1700nm |
| 波長精度 | nm | GA-T312R0U5: ± 0.2 GA-T30831U2: ± 0.3 |
| メーカ | BENTHAM | |
